TableXAFS是一種基于同步輻射的先進(jìn)表征技術(shù)。當(dāng)X射線光子能量接近并超過材料中特定原子內(nèi)層電子的電離閾值時(shí),其吸收系數(shù)會(huì)出現(xiàn)閾值之上的精細(xì)振蕩結(jié)構(gòu)。該振蕩來源于出射光電子波與周圍鄰近原子背散射電...
查看詳情
產(chǎn)品中心
Product Center
當(dāng)前位置:首頁
產(chǎn)品中心
CT型真空紫外光譜儀具備較高的靈敏度和分辨率,能夠精確測量微弱的光譜信號,揭示物質(zhì)更細(xì)微的結(jié)構(gòu)和性質(zhì)。其次,該儀器具備較寬的波長覆蓋范圍,可以覆蓋從近紫外到真空紫外區(qū)域的多個(gè)波長范圍,滿足各種研究需求...
查看詳情
真空紫外光譜儀采用Seya- Namioka光路結(jié)構(gòu),入射狹縫和CCD探測器位于羅蘭圓上,可以單色模式和光譜模式切用 。
查看詳情
x射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)(XAFS)譜儀,原位X射線吸收光譜是一種利用同步輻射光源或高性能實(shí)驗(yàn)室X射線源,測量并分析材料對X射線的吸收系數(shù)隨光子能量變化的精細(xì)結(jié)構(gòu)的大型實(shí)驗(yàn)裝置。通過在反應(yīng)過程中實(shí)時(shí)監(jiān)測吸收...
查看詳情
X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)(XAFS)譜儀X射線吸收光譜測試主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化,廣泛應(yīng)用于診斷材料的局域特性,例如核心原子的價(jià)態(tài)、 配位數(shù)、位形與鍵長。
查看詳情
X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)(XAFS)譜儀X射線吸收光譜測試主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化,廣泛應(yīng)用于診斷材料的局域特性,例如核心原子的價(jià)態(tài)、 配位數(shù)、位形與鍵長。
查看詳情
臺(tái)式X射線吸收譜儀 是一種采用常規(guī)實(shí)驗(yàn)室X射線光源(而非同步輻射),可在普通實(shí)驗(yàn)室內(nèi)完成X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)測量的桌面型分析儀器。它的目標(biāo)是在非同步輻射光源的條件下,實(shí)現(xiàn)對材料局部原子結(jié)構(gòu)的快速、便捷表...
查看詳情400-8877-750
